薄膜测厚仪主要用途： 本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993 标准。

技术参数：

1•测量范围：0-10mm

2•分度值：0.001㎜ 

3•上测头曲率半径：15～50㎜ 

4•测头对试样施加负荷：0.1～0.5N